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場發射掃描電子顯微鏡

簡要描述:SEM4000是一款分析型熱場發射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長壽命的肖特基場發射電子槍。三級磁透鏡設計,束流最大可達200 nA,在EDS、EBSD、WDS等應用上具有明顯優勢。標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器,可觀察導電性弱或不導電樣品。標配的光學導航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。

  • 產品型號:SEM4000
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2023-04-22
  • 訪  問  量:57
產品詳情

場發射掃描電子顯微鏡
SEM4000


SEM4000Pro是一款分析型熱場發射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長壽命的肖特基場發射電子槍。三級磁透鏡設計,束流最大可達200 nA,在EDS、EBSD、WDS等應用上具有明顯優勢。標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器,可觀察導電性弱或不導電樣品。標配的光學導航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。



場發射掃描電子顯微鏡

產品特點


 配備高亮度、長壽命的肖特基場發射電子槍

分辨率高,30kV下優于0.9nm的極限分辨率

三級磁透鏡設計,束流可調范圍大,最大支持 200 nA 的分析束流

標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器

無漏磁物鏡設計,可直接觀察磁性樣品

標配的光學導航模式,中文操作軟件,讓分析工作更輕松


應用案例

場發射掃描電子顯微鏡

產品參數

關鍵參數高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV,SE
低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa
1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa
加速電壓200 V ~ 30 kV
放大倍率1 ~ 1,000,000 x
電子槍類型肖特基熱場發射電子槍
樣品室真空系統全自動控制
低真空模式最大180 Pa
攝像頭雙攝像頭
(光學導航+樣品倉內監控)
行程X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm
T: -10°~+70°,R: 360°
探測器和擴展標配旁側二次電子探測器(ETD)
低真空二次電子探測器(LVD)
插入式背散射電子探測器(BSED)
選配能譜儀(EDS)
背散射衍射(EBSD)
插入式掃描透射探測器(STEM)
樣品交換倉
軌跡球&旋鈕控制板
軟件語言中文
操作系統Windows
導航光學導航、手勢快捷導航
自動功能自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散




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